Об участке

01.

Участок технологических испытаний производит проверку параметров выпускаемой продукции на соответствие техническим требованиям. Производится контроль широкого спектра статических и динамических параметров полупроводников и их сборок, а также проводятся испытания на механическую прочность и климатические воздействия. На участке реализованы автоматизированные измерения как одноканальных так и многоканальных изделий.

Условия испытаний

02.

Испытания производятся при разных температурных условиях от — 60 °С до + 125 °С в камерах тепла-холода. Большой ряд измерительной техники позволяет производить контроль статических параметров в широких диапазонах задания и измерения тока от 1нА до 140 А и напряжения от 1 мВ до 5 кВ. Динамические параметры контролируется в диапазоне от 1нс до 100с в зависимости от типа измерения.

Контроль параметров

03.

Широкий набор оснастки позволяет контролировать параметры изделия в различных типах корпуса от QLCC, DIP-6, DIP-8 до КТ-107А-1.03 4112.16-1, 4144.16-А и т. д. Проведение множества испытаний гарантирует высокое качество выпускаемой нами продукции.